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차량용 전원변동 시험기

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차량용 전원변동 시험기 | SG-7040 series

본문

품명 :  차량용 전원변동 시험기/  Power Supply Voltage Fluctuation Simulator

모델명 : SG-7040 series 

 

ISO16750 및 각 자동차 메이커에서 요구되는 DC 전압의 변동 파형을 재현 할 수 있습니다.

제품의 구동 전원 (+ B / ACC / IG1 / IG2 등)을 최대로 4ch의 동기를 취하면서 변화시킬 수 있습니다.

 

 ISO16750 규격에 준거

 파형 연산 회로를 탑재하여 고해상도 · 고정밀도를 실현

 최대 4ch의 변동 시험에 대응

오실로스코프에서 획득 한 실차의 변동 파형을 재현 할 수 있습니다. 

Test에 필요한 인력과 시간을 감소 할 수 있는 자동화 시스템을 구축 할 수 있습니다. 

 

사양 

Muti-sequential Oscillator SG-7040  

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ParameterSpecifications
Channel1channel - 4channels (Max.4 channels)
Trigger output for OscilloscopeBNC connector/ 0-5 Active low
 Set the desired point as the trigger point with the waveform creation software, 
and monitor generated waveforms with the external trigger function of the scope
Waveform generating methodSampling waveform output based on partial waveform memory and 
DSP circuit output CSV data
Output voltage0.00 to ±6.00V
Output current5mA max.
Output impedance50 ohm
Resolution (Setting)0.01V
Resolution (Output)0.732 mV
Offset voltage±6.0 V
Frequency response characteristics150kHz max (±6.00V amplitude sine wave)
 150kHz max (±6.00V amplitude rectangular wave)
Frequency accuracy±20ns+50ppm (over the entire frequency range)
Rise time/Fall timeLess than 100ns (0±1.00V swing)
Slew rate20V/µs
Synchronization accuracyAdjustable up to 1,000,000µs, at a step of 1µs to compensate differences in 
response time of the amplifiers connected
 Synchronization accuracy of less than 1µs at the outputs of the amplifiers connected
Calibration output1kHz 1V-p-p (for test)
PC interfaceUSB1.1
DimensionsApproximately (W)430 x (D)400 x (H)200 mm
WeightApproximately 10 kg

 

 

이 시스템은 기본적으로 다 채널 신호 발생기, 바이폴라 전원 및 임의 파형 생성 소프트웨어의 세 가지 요소로 구성됩니다. 

적절한 바이폴라 전원을 선택하고 시험 요건에 따라 다채널 신호 발생기를 구성해야한다 

1. Multi-channel signal generator 

2. Arbitrary waveform creation software 

3. Bipolar Power source 

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software

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Sweep setting function

다양한 T(times) 및 V(voltages)가 필요한 긴 테스트 기간 동안 왼쪽에 자세히 설명 된 스위프 기능을 사용하여 루프 파형을 쉽고 안정적으로 생성 

T(ε) = Start    Te(ε) = Stop 

Ut(ε) = Step   N = Loop Number 

LP = Loop Setting 

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 Delay set function

다중 채널 테스트에서는 각 개별 채널이 정확하게 동기화되도록하는 것이 중요합니다.  

이 시스템은 연결된 전력 증폭기와의 출력 타이밍 차이를 보정하여 1μs 이하의 동기화 지연을 보장하는 반면  

다른 시스템에는 유사한 기능이 장착되어 있지 않아 종종 잘못된 테스트가 발생합니다. 

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Customer center

02-3498-7081~2

메일 help@noisekorea.co.kr

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